磁性材料PCT加速老化試驗箱
艾(ai)思荔磁性材(cai)料PCT加速老化試(shi)驗箱采(cai)用進口微(wei)(wei)電(dian)腦(nao)控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)飽和(he)(he)蒸氣溫(wen)度、微(wei)(wei)電(dian)腦(nao)P.I.D自動(dong)演算控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)飽和(he)(he)蒸氣溫(wen)度。采(cai)用指(zhi)針顯(xian)示(shi)(shi)正負壓表;時(shi)間控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)器采(cai)LED顯(xian)示(shi)(shi)器;自動(dong)水(shui)位控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)器,水(shui)位不足時(shi)提供警示(shi)(shi)。圓型(xing)內箱,不銹(xiu)鋼圓型(xing)試(shi)驗內箱結構,符(fu)合工業安(an)全容(rong)器標(biao)準,可(ke)防止試(shi)驗中結露滴水(shui)設計。
更新時間:2023-10-12
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品牌 | 艾思荔/Asli | 溫度范圍 | 100~+135℃ |
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濕度范圍 | 100% R.H | 額定電壓 | 220V |
產地 | 國產 | 加工定制 | 是 |
艾(ai)思荔磁性材料PCT加速老化試驗箱采用進口微(wei)電腦(nao)控(kong)制飽和蒸氣(qi)溫度、微(wei)電腦(nao)P.I.D自動演(yan)算控制(zhi)(zhi)飽和(he)蒸氣(qi)溫度。采(cai)用指針顯示正(zheng)負壓表;時間控制(zhi)(zhi)器(qi)采(cai)LED顯示器(qi);自動水(shui)位控制(zhi)(zhi)器(qi),水(shui)位不足時提供警(jing)示。圓型(xing)內(nei)箱(xiang),不銹鋼(gang)圓型(xing)試驗(yan)內(nei)箱(xiang)結構(gou),符合工(gong)業安全容(rong)器(qi)標(biao)準(zhun),可防止試驗(yan)中(zhong)結露滴水(shui)設計。
PCT加(jia)速老化試驗箱規格參數:
內(nei)箱(xiang)尺寸(cm):Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60
控制系統:微(wei)電腦(nao)飽和蒸氣(qi)濕(shi)度+時間(jian)+壓力(li)顯示獨立控制器
溫度(du)范圍(wei):100℃-132℃可任意(yi)設定(143℃為特殊訂(ding)制)
濕度范圍:100%RH飽和蒸氣濕度
使用蒸氣(qi)壓力:0.0kg/㎝2-4.00kg/㎝2(對壓(ya)力:安全壓(ya)力容量4kg/㎝2/G=1個(ge)環境大氣壓(ya)+3kg/㎝2)
解析度:溫度:0.1壓力;指針(zhen)式(shi)0.1
控制穩定度(du):溫度(du):±0.5℃,濕度:100%
內箱材(cai)質:SUS316#不銹鋼
外(wai)箱材質:鋼板烤漆(qi)
循環方式:水(shui)蒸氣(qi)自然對流(liu)循環
配(pei)件:不銹(xiu)鋼置物(wu)架二層(或按客戶要求定制)
電源(yuan):AC220V,50/60HZ&1¢,AC380V,50/60HZ&3¢
PCT加速(su)老化試(shi)驗箱安全保護裝置:
1、感溫器檢測保護;
2、一階段高(gao)溫保護;
3、一階(jie)段(duan)高壓保護;
4、箱門壓力限制;
5、水(shui)箱缺水(shui)報警斷電;
6、溫(wen)度加熱(re)器保護;
7、濕(shi)度加(jia)濕(shi)器保護;
8、二階段高溫保護;
9、二階段高壓保(bao)護;
10、三階段緊急泄壓保護;
11、手動泄壓保(bao)護;自動泄壓等.
磁性材料PCT加速(su)老化(hua)試驗箱(xiang)儀器用途:
又稱(cheng)為PCT加速老化試驗箱,適用于(yu)國防(fang)、航天、汽(qi)車(che)部件(jian)、電子(zi)零配件(jian)、塑膠、磁鐵行業、制藥、線路(lu)板,多層線路(lu)板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制(zhi)品(pin)(pin)(pin)等產品(pin)(pin)(pin)之(zhi)密(mi)封性能的檢測(ce),相關之(zhi)產品(pin)(pin)(pin)作加速壽(shou)(shou)命(ming)試(shi)(shi)(shi)驗(yan),使(shi)用于在產品(pin)(pin)(pin)的設計階段(duan),用于快速暴露產品(pin)(pin)(pin)的缺陷和薄弱(ruo)環節。測(ce)試(shi)(shi)(shi)其(qi)制(zhi)品(pin)(pin)(pin)的耐厭性,氣密(mi)性。測(ce)試(shi)(shi)(shi)半導體封裝之(zhi)濕氣能力(li),待(dai)測(ce)產品(pin)(pin)(pin)被置于嚴(yan)苛之(zhi)溫度、濕度及(ji)壓力(li)下測(ce)試(shi)(shi)(shi),濕氣會沿者(zhe)膠(jiao)(jiao)體或(huo)膠(jiao)(jiao)體與(yu)導線架之(zhi)接口(kou)滲(shen)入封裝體,常見之(zhi)故障方式為(wei)主動金(jin)屬化區域腐蝕造成之(zhi)斷路,或(huo)封裝體引腳間(jian)因污(wu)染造成短路等。加速老化壽(shou)(shou)命(ming)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)的目(mu)的是提(ti)高環境應力(li)(如:溫度)與(yu)工作應力(li)(施加給(gei)產品(pin)(pin)(pin)的電壓、負荷等),加快試(shi)(shi)(shi)驗(yan)過程,縮短產品(pin)(pin)(pin)或(huo)系統(tong)的壽(shou)(shou)命(ming)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)時(shi)間(jian).
PCT加速(su)老化試驗箱技術優(you)勢(shi):
以前的(de)溫(wen)度(du)(du)測驗都(dou)是通過(guo)溫(wen)濕(shi)度(du)(du)的(de)飽和,蒸汽壓(ya)表計算的(de)過(guo)程而計算出來準確性(xing)不足,現采用(yong)的(de)是新技術(shu),在溫(wen)度(du)(du)、濕(shi)度(du)(du)、壓(ya)力是真的(de)讀取相關感測器的數值來顯示的、實驗過(guo)程(cheng)的。采(cai)用干(gan)(gan)(gan)燥的設計在(zai)實驗過(guo)程(cheng)中才用點(dian)熱干(gan)(gan)(gan)燥設計,來確保測試區或者是待測品(pin)的干(gan)(gan)(gan)燥,來確保穩定性質。Jing準的壓力/溫(wen)(wen)度(du)對照顯示,符合溫(wen)(wen)濕(shi)度(du)壓力對照表要求。